Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

• 更新時(shí)間：2020-12-28
• 瀏覽次數(shù)：1689

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。

訂購留言

分享到：

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號(hào)計(jì)數(shù)率，使儀器可以達(dá)到很小的重復(fù)精度和很低的測(cè)量下限。XUV非常適合測(cè)量很薄的鍍層和痕量分析。

        采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合，能夠保證每一次的測(cè)量都在*佳的條件下完成。在測(cè)量的同時(shí)，可以直觀地查看測(cè)量點(diǎn)的影像。儀器測(cè)量空間寬大，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺(tái)，既適合測(cè)量平面、大型板材類樣品，也適合形狀復(fù)雜的樣品。并且使得連續(xù)測(cè)量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡單。儀器配有一個(gè)激光定位點(diǎn)作為輔助定位裝置，進(jìn)一步方便了樣品的快速定位基于儀器的通用設(shè)計(jì)以及真空測(cè)量箱所帶來的擴(kuò)展的測(cè)量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發(fā)，也非常適合過程控制和實(shí)驗(yàn)室使用。

主要特征：

    • 帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管，可選鎢管和鉬管。*高工作條件：50 kV, 50W
    • X射線探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y(cè)器
    • 準(zhǔn)直器：4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑0.1mm到3mm
    • 基本濾片：6個(gè)，可自動(dòng)切換
    • 可編程XYZ工作臺(tái)
    • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測(cè)量位置。刻度線經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測(cè)量點(diǎn)大小。
    • 可在真空，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

    • 測(cè)量輕元素
    • 測(cè)量超薄鍍層和痕量分析
    • 常規(guī)金屬分析鑒定
    • 非破壞式寶石分析
    • 太陽能光伏產(chǎn)業(yè)

應(yīng)用實(shí)例：

種類、來源和真實(shí)性，是評(píng)估寶石價(jià)值的本質(zhì)特征；而寶石材質(zhì)的分析結(jié)果則是影響判斷的決定性因素。通常，寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物，還會(huì)伴隨有鎂和鈉等元素。另外， Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。在多個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用中，非常薄的Al鍍層、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來越重要。在真空環(huán)境中鍍層厚度的測(cè)量結(jié)果有顯著的提高。使用XUV來測(cè)量這些鍍層，重復(fù)精度僅幾個(gè)納米

。